Zum Inhalt springen Schlipf, Simon [VerfasserIn] ; Technische Universität Dresden Micromechanical indentation study of stress related effects in transistor channels Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Stuttgart: Fraunhofer Verlag, [2022] Erschienen in: Schriftenreihe Kompetenzen in Keramik und Materialdiagnostik ; 1
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> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (1) Wert ausschließen Magazinbestellung (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Zentralbibliothek (1) Wert ausschließen Bereichsbibliothek DrePunct (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Schlipf, Simon (1) Wert ausschließen Technische Universität Dresden (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen