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Ackmann, Wilhelm [VerfasserIn]

Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente : mit 9 Tabellen

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Heidelberg: Hüthig, 1976
Thoben, Markus [VerfasserIn]

Zuverlässigkeit von großflächigen Verbindungen in der Leistungselektronik : ein Beitrag zum "Design for Reliability" - [ Als Ms. gedr. ]

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Düsseldorf: VDI-Verl., 2002

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 363
Whitaker, Jerry C. [HerausgeberIn]

Electronic systems maintenance handbook - [ 2. ed. ]

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Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, 2002

Erschienen in: Electronics handbook series
Băjenescu, Titu I. [VerfasserIn]

Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten

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Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 1985
Scheel, Wolfgang [HerausgeberIn]

Innovative Produktionsprozesse für die Hochtemperatur-Elektronik am Beispiel der KFZ-Elektroniksysteme - [ 1. Aufl. ]

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Templin: Detert, 2005

Erschienen in: Buchreihe Aufbau- und Verbindungstechnik in der Elektronik - aktuelle Berichte ; 2
Jensen, Finn [VerfasserIn]

Electronic component reliability : fundamentals, modelling, evaluation, and assurance - [ Repr. ]

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Chichester [u.a.]: Wiley, 1998

Erschienen in: Wiley series in quality and reliability engineering
Schrüfer, Elmar [VerfasserIn]

Zuverlässigkeit von Meß- und Automatisierungseinrichtungen ; mit 50 Tabellen und vielen Beispielen

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München; Wien: Hanser, 1984

Erschienen in: Studienbücher der technischen Wissenschaften
Krämer, Frank [VerfasserIn]

Beanspruchungsanalyse von Ball Grid Array-Kontaktstrukturen beim Jedec-Droptest - [ Als Ms. gedr. ]

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Düsseldorf: VDI-Verl., 2013

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 392
Neher, Wolfgang [VerfasserIn]

Zuverlässigkeitsbetrachtungen an Aufbau- und Verbindungstechnologien für elektronische Steuergeräte im Kraftfahrzeug unter Hochtemperaturbeanspruchungen - [ 1. Aufl. ]

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Templin: Detert, 2006

Erschienen in: Themenreihe: Elektronik-Technologie in Forschung und Praxis ; 14
Hnatek, Eugene R. [VerfasserIn]

Practical reliability of electronic equipment and products

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New York [u.a.]: Dekker, 2003

Erschienen in: Electrical and computer engineering ; 116
Băjenescu, Titu I. [VerfasserIn]; Bâzu, Marius I. [VerfasserIn]

Reliability of electronic components : a practical guide to electronic systems manufactoring ; with 105 tables

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1999
Lacombe, Donald J. [VerfasserIn]

Reliability control for electronic systems

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New York; Basel: Dekker, 1999

Erschienen in: Electrical engineering and electronics ; 10700
Gottschalk, Armin [VerfasserIn]

Qualitäts- und Zuverlässigkeitssicherung elektronischer Bauelemente und Systeme : Methoden - Vorgehensweisen - Voraussagen ; mit 61 Tabellen - [ 2., völlig neu bearb. Aufl. ]

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Renningen: expert-Verl., 2010

Erschienen in: Kontakt & Studium ; 325,2
Băjenescu, Titu I. [VerfasserIn]; Bâzu, Marius I. [VerfasserIn] ; Băjenescu, Titu-Marius I. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Component reliability for electronic systems

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Boston, Mass. [u.a.]: Artech House, 2010
Esmark, Kai [VerfasserIn]; Goßner, Harald [VerfasserIn]; Stadler, Wolfgang [VerfasserIn]

Advanced simulation methods for ESD protection development - [ 1. ed. ]

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Amsterdam; Heidelberg [u.a.]: Elsevier, 2003
Băjenescu, Titu I. [VerfasserIn] ; Springer Fachmedien Wiesbaden, Springer Vieweg

Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme : Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

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https://doi.org/10.1007/978-3-658-22178-2

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Wiesbaden; [Heidelberg]: Imprint: Springer Vieweg, [2020]

Erschienen in: Springer eBook Collection
Wetzstein, Olaf [VerfasserIn] ; Töpfer, Hannes [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Seidel, Paul [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Weides, Martin [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Methoden zur Verbesserung der Funktionsstabilität digitaler Elektronik mit niedriger Schaltenergie

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Zugang zur Ressource (via Digitale Bibliothek Thüringen)

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2010 ; 2011
International Microelectronics and Packaging Society Italian Chapter, Institute of Electrical and Electronics Engineers

European Microelectronics and Packaging Conference, 2009 : EMPC 2009 ; 15 - 18 June 2009 ; Rimini

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Piscataway, NJ: IEEE, 2009
Wetzstein, Olaf [VerfasserIn] ; Töpfer, Hannes [AkademischeR BetreuerIn]; Seidel, Paul [AkademischeR BetreuerIn]; Weides, Martin [AkademischeR BetreuerIn]

Methoden zur Verbesserung der Funktionsstabilität digitaler Elektronik mit niedriger Schaltenergie / Methoden zur Verbesserung der Funktionsstabilität digitaler Elektronik mit niedriger Schaltenergie

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https://d-nb.info/1016620241/34

Zugang zur Ressource (via Digitale Bibliothek Thüringen) (kostenfrei)

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Ilmenau: Universitätsbibliothek Ilmenau, 2011
Badri Ghavifekr, Habib [VerfasserIn]

Einsatz bruchmechanischer Integralkonzepte zur thermomechanischen Zuverlässigkeitsbewertung in der mikroelektronischen Aufbau- und Verbindungstechnik / Einsatz bruchmechanischer Integralkonzepte zur thermomechanischen Zuverlässigkeitsbewertung in der mikroelektronischen Aufbau- und Verbindungstechnik

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Zugang

https://d-nb.info/970791909/34

kostenfrei

http://edocs.tu-berlin.de/diss/2004/badri_habib.htm

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