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  11. Galloway, Jesse [Veranstalter:in]; Wesling, Paul [Herausgeber:in] ; SEMI-THERM 34. 2018 San Jose, Calif, Institute of Electrical and Electronics Engineers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society

    Thirty-Fourth Annual Semiconductor Thermal Measurement, Modeling and Management Symposium : proceedings 2018 : San Jose, CA, USA, March 19-23, 2018

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2018

  12. Mulay, Veerendra [Veranstalter:in]; Wesling, Paul [Herausgeber:in] ; SEMI-THERM 33. 2017 San Jose, Calif, Institute of Electrical and Electronics Engineers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society

    Thirty-third Annual Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium : proceedings 2017, San Jose, CA, USA, March 13-17, 2017

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    Piscataway, NJ, U.S.A.: IEEE, 2017

  13. Rodgers, Peter [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; SEMI-THERM 31. 2015 San Jose, Calif, Institute of Electrical and Electronics Engineers

    SEMI-THERM : Thirty-First Annual Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium : proceedings 2015 : San Jose, CA, USA, March 15-19, 2015

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2015

  15. Arand, Wolfgang [Verfasser:in]; Zander, Ulf [Verfasser:in] ; Institut für Straßenwesen Braunschweig

    Einfluß von Temperatur und Temperaturrate auf den Verformungswiderstand frisch verlegter Asphaltdeckschichten während Abkühlung und Wiedererwärmung : Schlußbericht : AiF-Forschungsvorhaben Nr. 9.975

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    Bonn: Deutsches Asphaltinst. (DAI), 15. April 1998

  18. Chu, Herman [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Institute of Electrical and Electronics Engineers, Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society

    28th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2012 : 18 - 22 March 2012, San Jose, California, USA ; proceedings 2012

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2012

  19. Ankireddi, Sai [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Institute of Electrical and Electronics Engineers, Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society

    27th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2011 : 20 - 24 March 2011, San Jose, CA, USA ; proceedings 2011

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2011

  20. Aranyosi, Attila [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Institute of Electrical and Electronics Engineers, Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society

    26th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2010, SEMI-THERM 2010 : 21 - 25 February 2010, Santa Clara, CA, USA ; proceedings 2010

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2010