Zum Inhalt springen Brandon, David G. [VerfasserIn]; Kaplan, Wayne D. [VerfasserIn] Microstructural characterization of materials - [2nd edition] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Chichester: John Wiley & Sons, Ltd, [2008] Erschienen in: Quantitative software engineering series
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> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Chemie und Pharmazie (1) Wert ausschließen Physik (1) Wert ausschließen Technik (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Brandon, David G. (1) Wert ausschließen Kaplan, Wayne D. (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen