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Applied scanning probe methods / [1]

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2004

Erschienen in: Applied scanning probe methods ; [1]
Handbook of nanoscopy / 1

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Weinheim: Wiley-VCH, 2012

Erschienen in: Handbook of nanoscopy / ed. by Gustaaf Van Tendeloo ... ; 1
Beuermann, Lars [Verfasser:in]

Mikroskopische und spektroskopische Untersuchungen an SrTiO3-Oberflächen - [1. Aufl.]

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Clausthal-Zellerfeld: Papierflieger-Verl., 2009
Bhushan, Bharat [Herausgeber:in]

Applied scanning probe methods

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004-2009

Erschienen in: NanoScience and technology
Meyer, Ernst [Verfasser:in]; Hug, Hans Josef [Verfasser:in]; Bennewitz, Roland [Verfasser:in]

Scanning probe microscopy : the lab on a tip

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2004

Erschienen in: Advanced texts in physics - Physics and astronomy online library
Schührer, Holger [Verfasser:in]

Elektromigrationsuntersuchungen mit Rastersondenmethoden - [1. Aufl.]

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Göttingen: Cuvillier, 2000
Minne, Stephen C. [Verfasser:in]; Manalis, Scott R. [Verfasser:in]; Quate, Calvin F. [Verfasser:in]

Bringing scanning probe microscopy up to speed

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Boston [u.a.]: Kluwer, 1999

Erschienen in: Microsystems ; 3
Wiesendanger, Roland [Herausgeber:in]

Scanning probe microscopy : analytical methods

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1998

Erschienen in: NanoScience and technology
Paesler, Michael [Verfasser:in] ; Moyer, Patrick J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Paesler, Michael [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Near-field optics : theory, instrumentation, and applications

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New York; Weinheim [u.a.]: Wiley, 1996

Erschienen in: A Wiley Interscience publication
Samorí, Paolo [Herausgeber:in]

Scanning probe microscopies beyond imaging : manipulation of molecules and nanostructures

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Weinheim: Wiley-VCH, 2006
Sakurai, Toshio [Herausgeber:in]; Watanabe, Yousuke [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Advances in scanning probe microscopy

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2000

Erschienen in: Advances in materials research ; 2
Kuschewski, Frederik [Verfasser:in] ; Technische Universität Dresden

Investigation of nanometer scale charge carrier density variations with scattering-type scanning near-field microscopy in the THz regime

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Dresden, 16.Juli 2019
Vock, Silvia [Verfasser:in]

Resolving local magnetization structures by quantitative magnetic force microscopy

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2014
Birdi, K. S. [Verfasser:in]

Scanning probe microscopes : applications in science and technology

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Boca Raton, Fla.; London: CRC, 2003
Fillard, J. P. [Verfasser:in]

Near field optics and nanoscopy

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Singapore [u.a.]: World Scientific Publ., 1996
Geidel, Marion [Verfasser:in] ; Technische Universität Dresden

In-vacuo Untersuchungen zum initialen Aufwachsverhalten bei der Atomlagenabscheidung mittels Photoelektronenspektroskopie und Rastersondentechniken am Beispiel Ruthenium

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Dresden: TUDpress, 2018
Delamarche, Emmanuel [Herausgeber:in]; Kaigala, Govind V. [Herausgeber:in] ; Wiley-VCH

Open-space microfluidics : concepts, implementations, applications

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Weinheim, Germany: Wiley-VCH, [2018]
Otto, Tobias [Verfasser:in]

Local-scale optical properties of single-crystal ferroelectrics

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2006
Bhushan, Bharat [Herausgeber:in]

Nanotribology and nanomechanics : an introduction

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2005
Bonnell, Dawn A. [Herausgeber:in]

Scanning probe microscopy and spectroscopy : theory, techniques, and applications - [2. ed.]

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New York; Weinheim [u.a.]: Wiley-VCH, 2001

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