Zum Inhalt springen Kern, Martin [VerfasserIn]; Trempler, Jörg [VerfasserIn] Beobachtende und messende Mikroskopie in der Materialkunde : ein Leitfaden für die Praxis Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin: Brünne, 2007 Jörg, Fritz [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie Präparative und mikroskopische Verfahren in der Materialprüfung : Grundlagen, angewandte Mikroskopie - [1. Aufl.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Landsberg: ecomed, 1991 Heydenreich, Johannes [VerfasserIn] Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin: Akad.-Verl., 1989 Erschienen in: Akademie der Wissenschaften der DDR: Sitzungsberichte der Akademie der Wissenschaften der DDR / N ; 1989,1 Mitsche, Roland [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Anwendung des Rasterelektronenmikroskopes bei Eisen- und Stahlwerkstoffen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Radenthein: Österreich.-Amerikan. Magnesit A.G., 1978 Erschienen in: Radex-Rundschau ; 1978, 3/4 Grasenick, Fritz [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Elektronenmikroskopie : erweiterte Einsatzmöglichkeiten durch neue Entwicklungen und spezielle Abbildungs- und Präparationsmethoden Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Ehningen bei Böblingen: expert-Verl., 1991 Erschienen in: Kontakt & Studium ; 112 Heimendahl, Manfred von [VerfasserIn] Einführung in die Elektronenmikroskopie : Verfahren zur Untersuchung von Werkstoffen und anderen Festkörpern Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Braunschweig: Vieweg, 1970 Erschienen in: Werkstoffkunde ; 1 Handbook of microscopy / Methods 1 Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Weinheim: VCH, 1997 Erschienen in: Handbook of microscopy / ed. by S. Amelinckx ... ; Methods 1 Wagner, Ruben [VerfasserIn] ; Biermann, Horst [AkademischeR BetreuerIn]; Weidner, Anja [AkademischeR BetreuerIn]; Volkova, Olena [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Bergakademie Freiberg Untersuchung von nichtmetallischen Einschlüssen im Stahl 42CrMo4 nach Metallschmelzefiltration - [1. Auflage] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Freiberg: Technische Universität Bergakademie Freiberg, 2023 Erschienen in: Freiberger Forschungshefte / B ; 408 Ehrenstein, Gottfried W. [VerfasserIn] ; Ehrenstein, Gottfried W. [HerausgeberIn] Carl Hanser Verlag Mikroskopie : Lichtmikroskopie, Polarisation, Rasterkraftmikroskopie, Flureszenzmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie : Erlanger Kunststoff-Schadensanalyse Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. München: Hanser, [2020] Wegner, Michael [VerfasserIn] Konfokale Mikroskopie zur Topografiebestimmung technischer Oberflächen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Stuttgart: Inst. f. Techn. Optik, Univ. Stuttgart, 2002 Erschienen in: Universität Stuttgart: Berichte aus dem Institut für Technische Optik ; 44 Leng, Yang [VerfasserIn] Materials characterization : introduction to microscopic and spectroscopic methods - [2. ed.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Weinheim: Wiley-VCH, 2013 Shindo, Daisuke [VerfasserIn]; Hiraga, Kenji [VerfasserIn] High-resolution electron microscopy for materials science Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Tokyo; Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1998 Thien, Volker [HerausgeberIn] ; Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung Mikrostrukturelle und mikroanalytische Charakterisierung in Werkstoffentwicklung und Qualitätssicherung : Jubiläumsveranstaltung zum 20jährigen Bestehen des Arbeitskreises vom 25. bis 27. April 1990, Vorträge Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin: DVM, 1990 Erschienen in: Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung: Vortragsveranstaltung des Arbeitskreises Rastermikroskopie in der Materialprüfung ; 14 Leng, Yang [VerfasserIn] Materials characterization : introduction to microscopic and spectroscopic methods Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Singapore [u.a.]: Wiley, 2008 Brandon, David G. [VerfasserIn]; Kaplan, Wayne D. [VerfasserIn] Microstructural characterization of materials - [2nd edition] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Chichester: John Wiley & Sons, Ltd, [2008] Erschienen in: Quantitative software engineering series Pehnelt, Sebastian [VerfasserIn] ; Osten, Wolfgang [AkademischeR BetreuerIn]; Seewig, Jörg [AkademischeR BetreuerIn] Universität Stuttgart Optische Erfassung und Bewertung von Kennwerten zur Beurteilung der Mikrotopografie von Zylinderlaufbahnen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Stuttgart: Institut für Technische Optik, Universität Stuttgart, April 2017 Erschienen in: Universität Stuttgart: Berichte aus dem Institut für Technische Optik ; 85 Herzen, Julia [VerfasserIn] A grating interferometer for materials science imaging at a second-generation synchrotron radiation source - [Als Ms. vervielfältigt] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Geesthacht: Helmholtz-Zentrum Geesthacht, Zentrum für Material- und Küstenforschung GmbH, 2011 Erschienen in: Helmholtz-Zentrum Geesthacht: HZG report ; 2011,2 Newcomb, S. B. [HerausgeberIn] ; Institute of Materials Großbritannien, International Conference on the Microscopy of Oxidation 2 1993 Cambridge Microscopy of oxidation : proceedings of the 2nd International Conference on the Microscopy of Oxidation held Selwyn College, the University of Cambridge, 29-31 March 1993 Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. London: Institute of Materials, 1993 Erschienen in: Institute of Materials, Minerals and Mining: Book / Institute of Materials, Minerals and Mining ; 552 Gust, Norbert [VerfasserIn] Improvement of signal analysis for the ultrasonic microscopy Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Dresden: TUDpress, Verl. der Wiss., 2011 Erschienen in: Dresdner Beiträge zur zerstörungsfreien Prüftechnik ; 2 Grimm, Tobias [VerfasserIn] Entwicklung und Validierung einer automatisierten, dreidimensionalen Oberflächenanalyse zur Qualitätskontrolle von additiv gefertigten Bauteilen - [1. Auflage] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Aachen: Shaker Verlag, 2016 Erschienen in: Berichte aus der Fertigungstechnik
Kern, Martin [VerfasserIn]; Trempler, Jörg [VerfasserIn] Beobachtende und messende Mikroskopie in der Materialkunde : ein Leitfaden für die Praxis Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin: Brünne, 2007
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Jörg, Fritz [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie Präparative und mikroskopische Verfahren in der Materialprüfung : Grundlagen, angewandte Mikroskopie - [1. Aufl.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Landsberg: ecomed, 1991
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Heydenreich, Johannes [VerfasserIn] Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin: Akad.-Verl., 1989 Erschienen in: Akademie der Wissenschaften der DDR: Sitzungsberichte der Akademie der Wissenschaften der DDR / N ; 1989,1
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Mitsche, Roland [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Anwendung des Rasterelektronenmikroskopes bei Eisen- und Stahlwerkstoffen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Radenthein: Österreich.-Amerikan. Magnesit A.G., 1978 Erschienen in: Radex-Rundschau ; 1978, 3/4
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Grasenick, Fritz [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Elektronenmikroskopie : erweiterte Einsatzmöglichkeiten durch neue Entwicklungen und spezielle Abbildungs- und Präparationsmethoden Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Ehningen bei Böblingen: expert-Verl., 1991 Erschienen in: Kontakt & Studium ; 112
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Heimendahl, Manfred von [VerfasserIn] Einführung in die Elektronenmikroskopie : Verfahren zur Untersuchung von Werkstoffen und anderen Festkörpern Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Braunschweig: Vieweg, 1970 Erschienen in: Werkstoffkunde ; 1
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Handbook of microscopy / Methods 1 Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Weinheim: VCH, 1997 Erschienen in: Handbook of microscopy / ed. by S. Amelinckx ... ; Methods 1
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Wagner, Ruben [VerfasserIn] ; Biermann, Horst [AkademischeR BetreuerIn]; Weidner, Anja [AkademischeR BetreuerIn]; Volkova, Olena [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Bergakademie Freiberg Untersuchung von nichtmetallischen Einschlüssen im Stahl 42CrMo4 nach Metallschmelzefiltration - [1. Auflage] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Freiberg: Technische Universität Bergakademie Freiberg, 2023 Erschienen in: Freiberger Forschungshefte / B ; 408
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Ehrenstein, Gottfried W. [VerfasserIn] ; Ehrenstein, Gottfried W. [HerausgeberIn] Carl Hanser Verlag Mikroskopie : Lichtmikroskopie, Polarisation, Rasterkraftmikroskopie, Flureszenzmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie : Erlanger Kunststoff-Schadensanalyse Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. München: Hanser, [2020]
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Wegner, Michael [VerfasserIn] Konfokale Mikroskopie zur Topografiebestimmung technischer Oberflächen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Stuttgart: Inst. f. Techn. Optik, Univ. Stuttgart, 2002 Erschienen in: Universität Stuttgart: Berichte aus dem Institut für Technische Optik ; 44
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Leng, Yang [VerfasserIn] Materials characterization : introduction to microscopic and spectroscopic methods - [2. ed.] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Weinheim: Wiley-VCH, 2013
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Shindo, Daisuke [VerfasserIn]; Hiraga, Kenji [VerfasserIn] High-resolution electron microscopy for materials science Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Tokyo; Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1998
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Thien, Volker [HerausgeberIn] ; Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung Mikrostrukturelle und mikroanalytische Charakterisierung in Werkstoffentwicklung und Qualitätssicherung : Jubiläumsveranstaltung zum 20jährigen Bestehen des Arbeitskreises vom 25. bis 27. April 1990, Vorträge Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Berlin: DVM, 1990 Erschienen in: Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung: Vortragsveranstaltung des Arbeitskreises Rastermikroskopie in der Materialprüfung ; 14
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Leng, Yang [VerfasserIn] Materials characterization : introduction to microscopic and spectroscopic methods Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Singapore [u.a.]: Wiley, 2008
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Brandon, David G. [VerfasserIn]; Kaplan, Wayne D. [VerfasserIn] Microstructural characterization of materials - [2nd edition] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Chichester: John Wiley & Sons, Ltd, [2008] Erschienen in: Quantitative software engineering series
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Pehnelt, Sebastian [VerfasserIn] ; Osten, Wolfgang [AkademischeR BetreuerIn]; Seewig, Jörg [AkademischeR BetreuerIn] Universität Stuttgart Optische Erfassung und Bewertung von Kennwerten zur Beurteilung der Mikrotopografie von Zylinderlaufbahnen Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Stuttgart: Institut für Technische Optik, Universität Stuttgart, April 2017 Erschienen in: Universität Stuttgart: Berichte aus dem Institut für Technische Optik ; 85
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Herzen, Julia [VerfasserIn] A grating interferometer for materials science imaging at a second-generation synchrotron radiation source - [Als Ms. vervielfältigt] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Geesthacht: Helmholtz-Zentrum Geesthacht, Zentrum für Material- und Küstenforschung GmbH, 2011 Erschienen in: Helmholtz-Zentrum Geesthacht: HZG report ; 2011,2
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Newcomb, S. B. [HerausgeberIn] ; Institute of Materials Großbritannien, International Conference on the Microscopy of Oxidation 2 1993 Cambridge Microscopy of oxidation : proceedings of the 2nd International Conference on the Microscopy of Oxidation held Selwyn College, the University of Cambridge, 29-31 March 1993 Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. London: Institute of Materials, 1993 Erschienen in: Institute of Materials, Minerals and Mining: Book / Institute of Materials, Minerals and Mining ; 552
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Gust, Norbert [VerfasserIn] Improvement of signal analysis for the ultrasonic microscopy Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Dresden: TUDpress, Verl. der Wiss., 2011 Erschienen in: Dresdner Beiträge zur zerstörungsfreien Prüftechnik ; 2
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Grimm, Tobias [VerfasserIn] Entwicklung und Validierung einer automatisierten, dreidimensionalen Oberflächenanalyse zur Qualitätskontrolle von additiv gefertigten Bauteilen - [1. Auflage] Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Aachen: Shaker Verlag, 2016 Erschienen in: Berichte aus der Fertigungstechnik
> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
> Medientyp Skip to next facet Bücher (27) Wert ausschließen Normen (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (16) Wert ausschließen Magazinbestellung (10) Wert ausschließen Verfügbarkeit vor Ort erfragen (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Bereichsbibliothek DrePunct (15) Wert ausschließen Zentralbibliothek (13) Wert ausschließen Zweigbibliothek Forstwissenschaft (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Rechte-/Nutzungshinweis Skip to next facet Urheberrechtsschutz (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Zugangsstatus Skip to next facet Freier Zugang (3) Wert ausschließen Eingeschränkter Zugang (1) Wert ausschließen Ohne Angabe (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Deutsch (15) Wert ausschließen Englisch (13) Wert ausschließen Nicht zu entscheiden (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Technik (20) Wert ausschließen Physik (17) Wert ausschließen Chemie und Pharmazie (8) Wert ausschließen Allgemeine Naturwissenschaft (4) Wert ausschließen Biologie (2) Wert ausschließen Geologie und Paläontologie (2) Wert ausschließen Allgemeines (1) Wert ausschließen Geographie (1) Wert ausschließen Wirtschaftswissenschaften (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Ehrenstein, Gottfried W. (2) Wert ausschließen Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (2) Wert ausschließen Hofmann, Martin (2) Wert ausschließen Leng, Yang (2) Wert ausschließen Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung (1) Wert ausschließen Besaga, Vira (1) Wert ausschließen Biermann, Horst (1) Wert ausschließen Brandon, David G. (1) Wert ausschließen Carl Hanser Verlag (1) Wert ausschließen Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie (1) Wert ausschließen Grasenick, Fritz (1) Wert ausschließen Grimm, Tobias (1) Wert ausschließen Gust, Norbert (1) Wert ausschließen Heimendahl, Manfred von (1) Wert ausschließen Herzen, Julia (1) Wert ausschließen Heydenreich, Johannes (1) Wert ausschließen Hiraga, Kenji (1) Wert ausschließen Hoffmann, Martin (1) Wert ausschließen ISO International Organization for Standardization (1) Wert ausschließen ISO Internationale Organisation für Normung (1) Wert ausschließen ISO Organisation Internationale de Normalisation (1) Wert ausschließen ISO/TC 172 Optics and photonics (1) Wert ausschließen ISO/TC 172 Optik und Photonik (1) Wert ausschließen ISO/TC 172 Optique et photonique (1) Wert ausschließen Ingham, Jeremy P. (1) Wert ausschließen Institute of Materials Großbritannien (1) Wert ausschließen International Conference on the Microscopy of Oxidation 2 1993 Cambridge (1) Wert ausschließen Jörg, Fritz (1) Wert ausschließen Kaplan, Wayne D. (1) Wert ausschließen Kern, Martin (1) Wert ausschließen Koch, Martin (1) Wert ausschließen Max-Planck-Institut für Eisenforschung (1) Wert ausschließen Mitsche, Roland (1) Wert ausschließen Newcomb, S. B. (1) Wert ausschließen Osten, Wolfgang (1) Wert ausschließen Pehnelt, Sebastian (1) Wert ausschließen Qu, Aisha (1) Wert ausschließen Raabe, Dierk (1) Wert ausschließen Schnitzler, Lena (1) Wert ausschließen Seewig, Jörg (1) Wert ausschließen Shindo, Daisuke (1) Wert ausschließen Technische Universität Bergakademie Freiberg (1) Wert ausschließen Thien, Volker (1) Wert ausschließen Trempler, Jörg (1) Wert ausschließen Universität Stuttgart (1) Wert ausschließen Volkova, Olena (1) Wert ausschließen Wagner, Ruben (1) Wert ausschließen Wegner, Michael (1) Wert ausschließen Weidner, Anja (1) Wert ausschließen XA-DE-BY (1) Wert ausschließen Zhu, Yimei (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet Verbunddaten SWB (24) Wert ausschließen Diss online (2) Wert ausschließen Lizenzfreie Online-Ressourcen (1) Wert ausschließen Nautos (ISO-Normen) (1) Wert ausschließen Springer ebook collection / Chemistry and Materials Science 2005-2008 (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen