Zum Inhalt springen Pfeifer, Tilo [VerfasserIn]; Bambach, Manfred [VerfasserIn] Definition und Prüfung von Kriterien zur Bestimmung systematischer und zufälliger Fehler von Drei-Koordinaten-Messgeräten Mikroformen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Opladen: Westdeutscher Verl., 1979 ; Mikrofiche-Ausg. Erschienen in: Nordrhein-Westfalen: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen ; 2856,mifi Pfeifer, Tilo [VerfasserIn]; Bambach, Manfred [VerfasserIn] Definition und Prüfung von Kriterien zur Bestimmung systematischer und zufälliger Fehler von Drei-Koordination-Meßgeräten Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Opladen: Westdeutscher Verl., 1979 Erschienen in: Nordrhein-Westfalen: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen ; 2856 Takala, Mika; Bambach, Patrick; Deller, Jakob; Vilenius, Esa; Wittig, Manfred; Lentz, Harald; Braun, Hans Martin; Kaasalainen, Mikko; Pursiainen, Sampsa Far-Field Inversion for the Deep Interior Scanning CubeSat Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2019 Erschienen in: IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems
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> Medientyp Skip to next facet Aufsätze (1) Wert ausschließen Bücher (1) Wert ausschließen Mikroformen (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Verfügbarkeit Skip to next facet Magazinbestellung (2) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Zentralbibliothek (1) Wert ausschließen Bereichsbibliothek DrePunct (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Deutsch (2) Wert ausschließen Nicht zu entscheiden (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Physik (2) Wert ausschließen Technik (2) Wert ausschließen Allgemeines (1) Wert ausschließen Mathematik (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Bambach, Manfred (2) Wert ausschließen Pfeifer, Tilo (2) Wert ausschließen Bambach, Patrick (1) Wert ausschließen Braun, Hans Martin (1) Wert ausschließen Deller, Jakob (1) Wert ausschließen Kaasalainen, Mikko (1) Wert ausschließen Lentz, Harald (1) Wert ausschließen Pursiainen, Sampsa (1) Wert ausschließen Takala, Mika (1) Wert ausschließen Vilenius, Esa (1) Wert ausschließen Wittig, Manfred (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet Verbunddaten SWB (2) Wert ausschließen Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (CrossRef) (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen