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  2. Kantardzic, Mehmed M. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Zurada, Jozef [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Kantardzic, Mehmed [HerausgeberIn]

    Next generation of data-mining applications

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    Piscataway, NJ: IEEE Press, 2005 ; Hoboken, NJ: Wiley-Interscience, 2005

  3. Kantardzic, Mehmed [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; IEEE Xplore (Online Service), John Wiley & Sons

    Data mining : concepts, models, methods, and algorithms - [Second edition]

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    Hoboken, New Jersey: Wiley, IEEE Press, [2011] ; Online-Ausg.

    Erschienen in: IEEE Xplore Digital Library

  4. Kantardzic, Mehmed [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; International Conference on Machine Learning and Applications 3 2004 Louisville, Ky, IEEE Systems, Man, and Cybernetics Society

    Proceedings / 2004 International Conference on Machine Learning and Applications, 2004 : 16 - 18 December, 2004, [Louisville, Kentucky, USA]

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    Piscataway, NJ: IEEE Operations Center, 2004

  5. Kantardzic, Mehmed [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Data mining : concepts, models, methods, and algorithms

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    Hoboken, NJ; s.l.: IEEE Press, 2003 ; Online-Ausg.: Piscataway, N.J: IEEE, 2010

    Erschienen in: IEEE Xplore Digital Library

  6. Kantardzic, Mehmed [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Zurada, Jozef [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; IEEE Xplore (Online service), John Wiley & Sons

    Next generation of data mining applications

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    Hoboken, New Jersey; Piscataway, New Jersey: Wiley-Interscience, IEEE, [2005] ; Online-Ausg.

    Erschienen in: IEEE Xplore Digital Library

  7. Emara, Wael [VerfasserIn]; Karnstedt, Mehmed Kantardzic Marcel [VerfasserIn]; Sattler, Kai-Uwe [VerfasserIn]; Habich, Dirk [VerfasserIn]; Lehner, Wolfgang [VerfasserIn]

    An Approach for Incremental Semi-supervised SVM

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    Dresden: Technische Universität Dresden, 2022

  8. Wani, M. Arif [HerausgeberIn]; Kantardzic, Mehmed [HerausgeberIn]; Sayed-Mouchaweh, Moamar [HerausgeberIn]; Gama, Joao [HerausgeberIn]; Lughofer, Edwin [HerausgeberIn] ; IEEE International Conference on Machine Learning and Applications 17. 2018 Orlando, Fla, Institute of Electrical and Electronics Engineers

    17th IEEE International Conference on Machine Learning and Applications : ICMLA 2018 : 17-20 December 2018, Orlando, Florida, USA : proceedings

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    Piscataway, NJ: IEEE, 2018