Zum Inhalt springen Deng, Yangdong [VerfasserIn]; Maly, Wojciech P. [VerfasserIn] 3-dimensional VLSI : a 2.5-dimensional integration scheme Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 4030 Beijing: Tsinghua Univ. Press, 2010 ; Berlin; Heidelberg: Springer, 2010 Qiu, Xiang; Marek-Sadowska, Malgorzata; Maly, Wojciech P. Three-Dimensional Chips Can Be Cool: Thermal Study of VeSFET-Based 3-D Chips Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2015 Erschienen in: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems Qiu, Xiang; Marek-Sadowska, Malgorzata; Maly, Wojciech P. Characterizing VeSFET-Based ICs With CMOS-Oriented EDA Infrastructure Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014 Erschienen in: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems Niewczas, Mariusz; Li, Xiaolei; Strojwas, Andrzej J.; Maly, Wojciech P. Chip-scale 3D topography synthesis Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 1998 Erschienen in: SPIE Proceedings Simon, Paul; Veelenturf, Kees; van Adrichem, Paul; de Jong, Jeroen; Sprij, Stanley; Maly, Wojciech P. Layout-based manufacturability assessment and yield prediction methodology Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 1999 Erschienen in: SPIE Proceedings Chen, Li; Milor, Linda; Ouyang, Charles; Maly, Wojciech P.; Peng, Yeng-Kaung Proximity effect correction for clock-rate maximization Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 1998 Erschienen in: SPIE Proceedings Elias, Akiva; Strojwas, Andrzej J.; Maly, Wojciech P.; Nurani, Raman K. Accurate prediction of kill ratios based on KLA defect inspection and critical area analysis Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 1996 Erschienen in: SPIE Proceedings
Deng, Yangdong [VerfasserIn]; Maly, Wojciech P. [VerfasserIn] 3-dimensional VLSI : a 2.5-dimensional integration scheme Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. 4030 Beijing: Tsinghua Univ. Press, 2010 ; Berlin; Heidelberg: Springer, 2010
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Qiu, Xiang; Marek-Sadowska, Malgorzata; Maly, Wojciech P. Three-Dimensional Chips Can Be Cool: Thermal Study of VeSFET-Based 3-D Chips Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2015 Erschienen in: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
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Qiu, Xiang; Marek-Sadowska, Malgorzata; Maly, Wojciech P. Characterizing VeSFET-Based ICs With CMOS-Oriented EDA Infrastructure Aufsätze Online ansehen Schließen > Zugang Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014 Erschienen in: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
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Niewczas, Mariusz; Li, Xiaolei; Strojwas, Andrzej J.; Maly, Wojciech P. Chip-scale 3D topography synthesis Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 1998 Erschienen in: SPIE Proceedings
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Simon, Paul; Veelenturf, Kees; van Adrichem, Paul; de Jong, Jeroen; Sprij, Stanley; Maly, Wojciech P. Layout-based manufacturability assessment and yield prediction methodology Konferenzberichte Online ansehen Schließen > Zugang Zugang zur Ressource (via DOI) Zeige weitere weniger zeigen Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. SPIE, 1999 Erschienen in: SPIE Proceedings
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> Medientyp Skip to next facet Konferenzberichte (4) Wert ausschließen Aufsätze (2) Wert ausschließen Bücher (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Bereichsbibliothek DrePunct (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Sprache Skip to next facet Nicht zu entscheiden (6) Wert ausschließen Englisch (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Fachgebiet Skip to next facet Technik (3) Wert ausschließen Informatik (2) Wert ausschließen Mathematik (2) Wert ausschließen Physik (2) Wert ausschließen Musikwissenschaft (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Maly, Wojciech P. (7) Wert ausschließen Marek-Sadowska, Malgorzata (2) Wert ausschließen Qiu, Xiang (2) Wert ausschließen Strojwas, Andrzej J. (2) Wert ausschließen Chen, Li (1) Wert ausschließen Deng, Yangdong (1) Wert ausschließen Elias, Akiva (1) Wert ausschließen Li, Xiaolei (1) Wert ausschließen Milor, Linda (1) Wert ausschließen Niewczas, Mariusz (1) Wert ausschließen Nurani, Raman K. (1) Wert ausschließen Ouyang, Charles (1) Wert ausschließen Peng, Yeng-Kaung (1) Wert ausschließen Simon, Paul (1) Wert ausschließen Sprij, Stanley (1) Wert ausschließen Veelenturf, Kees (1) Wert ausschließen de Jong, Jeroen (1) Wert ausschließen van Adrichem, Paul (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Kollektion Skip to next facet SPIE (CrossRef) (4) Wert ausschließen Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (CrossRef) (2) Wert ausschließen Verbunddaten SWB (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen