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  1. Brümmer, Otto [HerausgeberIn] ; Physikalische Gesellschaft der Deutschen Demokratischen Republik, Herbstschule über Mikroanalyse Dünner Schichten und Schichtstrukturen 1982 Fincken

    Mikroanalyse dünner Schichten und Schichtstrukturen 1982 : [Materialien zur 5. Herbstsch. d. Arbeitsgruppe "Mikrosonde" über "Mikroanalyse Dünner Schichten u. Schichtstrukturen" vom 25. - 30. Oktober 1982 in Fincken]

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    Halle (Saale): Abt. Wissenschaftspublizistik d. Martin-Luther-Univ., 1984

    Erschienen in: Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg: Wissenschaftliche Beiträge / O ; 15 - Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg: Wissenschaftliche Beiträge / Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg ; 1984,1

  2. Brümmer, Otto [HerausgeberIn]

    Mikroanalyse : Probenpräparation und -bearbeitung; [Materialien zur 7. Frühjahrsschule der Arbeitsgruppe "Mikrosonde" über "Mikroanalyse, Probenpräparation und -bearbeitung" vom 20.- 25. April 1987 in Fincken]

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    Halle (Saale), 1988

    Erschienen in: Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg: Wissenschaftliche Beiträge / O ; 25 - Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg: Wissenschaftliche Beiträge / Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg ; 1988,39

  3. Heinrich, Kurt F. [HerausgeberIn]

    Use of Monte Carlo calculations in electron probe microanalysis and scanning electron microscopy : proceedings of a workshop held at the National Bureau of Standards; Gaithersburg, Maryland, Ocotber 1 - 3, 1975

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    Washington, DC: US Department of Commerce, National Bureau of Standards, 1976

    Erschienen in: USA: National Bureau of Standards special publication ; 460

  4. Goldstein, Joseph [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Newbury, Dale E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Echlin, Patrick [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Joy, David C. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fiori, charles [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Lifshin, Eric [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Goldstein, Joseph I. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists - [2. print]

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    New York [u.a.]: Plenum Press, 1984