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Müller, Erwin Wilhelm [VerfasserIn]; Tsong, Tien T. [VerfasserIn]

Avtoionnaja mikroskopija : (principy i primenenie)

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Moskva: Metallurgija, 1972
Schoen, Lothar [VerfasserIn]

Erwin Wilhelm Müller

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Erlangen, 1994

Erschienen in: Pioniere der Wissenschaft bei Siemens ; (1994), Seite 170-175
Müller, Erwin Wilhelm [VerfasserIn]; Tsong, Tien T. [VerfasserIn] ; Tsong, Tien Tzou [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Field ion microscopy, field ionization, and field evaporation - [1st ed.]

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Oxford; Braunschweig [u.a.]: Pergamon Press, 1973

Erschienen in: Progress in surface science ; 1973,0004,01
Müller, Erwin Wilhelm [VerfasserIn]; Tsong, Tien T. [VerfasserIn] ; Tsong, Tien Tzou [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Field ion microscopy : principles and applications

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New York: American Elsevier Publ., 1969
Busch, Ralf [VerfasserIn]; Schneider, Susanne [VerfasserIn]; Samwer, Konrad [VerfasserIn]

Analytical field ion microscopy of the solid state amorphization reaction in vapour deposited Zr/Co double layers

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Göttingen: Vandenhoeck & Ruprecht, 1991

Erschienen in: Akademie der Wissenschaften in Göttingen: Nachrichten der Akademie der Wissenschaften zu Göttingen, Mathematisch-Physikalische Klasse ; 1991,1
Jiang, Xiaodan [VerfasserIn]

Frühe Entmischungszustände in verdünnten Cu-Co-Legierungen : eine Feldionenmikroskop- und Atomsondenuntersuchung

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1990
Fischer, Rainer [VerfasserIn]

Strukturelle Charakterisierung auf atomarer Skala von unlegiertem und chromhaltigem NiAl mit B2-Überstrukturgitter mit der Atomsonden-Feldionenmikroskopie

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Aachen: Shaker, 2004

Erschienen in: Berichte aus der Materialwissenschaft
Wagner, Richard [VerfasserIn]

Field-ion microscopy

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1982

Erschienen in: Crystals ; 1982,6
Amelinckx, Severin [HerausgeberIn]

Diffraction and imaging techniques in material science

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Amsterdam [u.a.]: North-Holland Publ. Comp., 19XX-
Welzel, Stephan [VerfasserIn]

Mikrochemische Untersuchungen an der Fe72Pt28 Invarlegierung - [Als Ms. gedr]

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Düsseldorf: VDI-Verl., 1996

Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 5 ; 42500
Murr, Lawrence E. [VerfasserIn]

Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications - [2. ed., rev. and expanded]

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New York [u.a.]: Dekker, 1991

Erschienen in: Optical engineering ; 29.1991
Oehring, Michael [VerfasserIn]

Atomsondenuntersuchungen zur chemischen Homogenität metallener Gläser

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1988
Amelinckx, Severin [HerausgeberIn] ; International Summer Course on Material Science 1969 Antwerpen

Modern diffraction and imaging techniques in material science : proceedings of the International Summer Course on Material Science held at Antwerp, Belgium, 28 July - 8 August 1969

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Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1970
Wortmann, Ben David [VerfasserIn] ; Möller, Rolf [AkademischeR BetreuerIn]

Manipulation von Spitzen und Proben - Feldionenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie

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https://d-nb.info/1164376233/34

kostenfrei

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Duisburg; Essen: Universitätsbibliothek Duisburg-Essen, 2018
Weigel, Daniel [VerfasserIn] ; Kowarschik, Richard [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Osten, Wolfgang [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Gross, Herbert [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Weitfeldmikroskopie unter Verwendung eines bildinvertierenden Interferometers

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https://d-nb.info/1170399274/34

Zugang zur Ressource (via Digitale Bibliothek Thüringen) (kostenfrei)

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Jena: Friedrich-Schiller-Universität Jena, 2018
Cörper, Alexander [VerfasserIn]

Feld-Ionen-Mikroskopie und Feld-Elektronen-Energie-Spektroskopie aluminiumoxid-getragener Partikel

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https://d-nb.info/969500904/34

kostenfrei

http://edocs.tu-berlin.de/diss/2003/coerper_alexander.htm

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Senkbeil, Tobias [VerfasserIn] ; Dahint, Reiner [AkademischeR BetreuerIn]

Untersuchung der Klebstoffe mariner Foulingorganismen mit synchrotronbasierten Röntgenmethoden

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Heidelberg: Universitätsbibliothek Heidelberg, 2014
Katnagallu, Shyam Swaroop [VerfasserIn] ; Drautz, Ralf [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Raabe, Dierk [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Fakultät für Maschinenbau

On chemically sensitive atomic scale imaging

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Bochum: Ruhr-Universität Bochum, 2018
Sachtler, W. M. H.

Untersuchung der Adsorption von Gasen an reinen Metalloberflächen mit Hilfe der Feldelektronenmikroskopie und der Feldionenmikroskopie

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Wiley, 1968

Erschienen in: Angewandte Chemie

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