TY -
BOOK
AU - Brandon, David G.
AU - Kaplan, Wayne D.
TI -
Microstructural characterization of materials
ET - 2nd edition
PB - John Wiley & Sons, Ltd
SN - 9780470027844
SN - 9780470027851
SN - 0470027843
SN - 0470027851
KW - Materials Microscopy
KW - Microstructure
KW - Materialcharakterisierung
KW - Werkstoff
KW - Mikrostruktur
KW - Röntgenbeugung
KW - Mikroskopie
KW - Elektronenmikroskopie
KW - Chemische Analyse
KW - Werkstoffprüfung
PY - [2008]
PY - , © 2008
N2 - Literaturangaben
BT - Quantitative software engineering series
CY - Chichester
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -