TY - GEN

AU - OCM 4. 2019 Karlsruhe

AU - Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung

AU - Karlsruher Institut für Technologie

AU - Beyerer, Jürgen

AU - Puente León, Fernando

AU - Längle, Thomas

TI - OCM 2019 4th International Conference on Optical Characterization of Materials : March 13th - 14th, 2019 : Karlsruhe, Germany

PB - KIT Scientific Publishing

KW - Konferenzschrift

KW - Materialcharakterisierung

KW - Spektroskopie

PY - [2019]

CY - Karlsruhe

UR - https://katalog.slub-dresden.de/en/?cHash=0bb8bd27a7fbde41cd02875a74ca0f3d&tx_find_find%5Baction%5D=citation&tx_find_find%5Bcontroller%5D=Search&tx_find_find%5Bid%5D=0-1655351923&tx_find_find%5Btype%5D=ris

ER -