TY -
GEN
AU - OCM 4. 2019 Karlsruhe
AU - Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung
AU - Karlsruher Institut für Technologie
AU - Karlsruher Institut für Technologie
AU - Beyerer, Jürgen
AU - Puente León, Fernando
AU - Längle, Thomas
TI -
OCM 2019
4th International Conference on Optical Characterization of Materials : March 13th - 14th, 2019 : Karlsruhe, Germany
PB - KIT Scientific Publishing
KW - Konferenzschrift
KW - Materialcharakterisierung
KW - Spektroskopie
PY - [2019]
CY - Karlsruhe
UR - https://katalog.slub-dresden.de/en/?cHash=0bb8bd27a7fbde41cd02875a74ca0f3d&tx_find_find%5Baction%5D=citation&tx_find_find%5Bcontroller%5D=Search&tx_find_find%5Bid%5D=0-1655351923&tx_find_find%5Btype%5D=ris
ER -