TY -
GEN
AU - Di Gilio, Thierry
TI -
Reliability Study of 130nm CMOS technology submitted to hot carrier injections ; Etude de la fiabilité porteurs chauds et des performances des technologies CMOS 0.13 μm - 2nm
PB - HAL CCSD
PY - 2006
CY - [Erscheinungsort nicht ermittelbar]
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -