TY -
GEN
AU - Franzka, Steffen
TI -
Rasterkraftmikroskopische Untersuchungen zur Reibung von Silicium- und Al2O3-Einkristalloberflächen im Kontakt mit Silicium
PB - IKM, Inst. für Keramik im Maschinenbau
KW - Hochschulschrift
KW - Silicium
KW - Saphir
KW - Einkristall
KW - Rasterkraftmikroskopie
PY - [ca. 1999]
BT - IKM ; 27
CY - Karlsruhe
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -