TY -
GEN
AU - Institute of Electrical and Electronics Engineers
AU - IEEE Computer Society Test Technology Technical Council
AU - IEEE Computer Society Technical Committee on Fault Tolerant Computing
AU - Chapman, Glenn
TI -
IEEE 25th [i.e. 23rd] International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT), 2010
6 - 8 Oct. 2010, Kyoto, Japan
PB - IEEE
SN - 9780769542430
SN - 1424484472
SN - 9781424484478
KW - Konferenzschrift
KW - VLSI
KW - Fehlertoleranz
PY - 2010
N2 - Literaturangaben
N2 - Fälschlich als "25th Symposium" gezählt. Auf der Homepage als "13th IEEE Symposium ..." bezeichnet, insgesamt jedoch die 23. Tagung in dieser Konferenzfolge (1998 Namensänderung von "Workshop" zu "Symposium")
CY - Piscataway, NJ
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -