TY - GEN
AU - ZuE 2015 Siegen
AU - Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik
AU - Informationstechnische Gesellschaft
AU - Gesellschaft für Informatik
TI - ZuE 2015 8. GMM/ITG/GI-Symposium Reliability by Design : 21-23 Sept. 2015
PB - IEEE
KW - Konferenzschrift
KW - Entwurfsautomation
KW - Zuverlässigkeit
KW - Eingebettetes System
PY - 2015
N2 - Literaturangaben
N2 - Title from content provider
CY - [Piscataway, NJ]
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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