TY - GEN
AU - Hess, Christopher
AU - Weiland, Larg H.
AU - Bornefeld, R.
TI - Issues on short circuits in large on-chip power MOS-transistors using a modified checkerboard test structure
KW - DATA processing & computer science
PY - 2008-01-16
N2 - Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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