TY - GEN
AU - Schöber, Volker
TI - Der testfreundliche Entwurf asynchroner Schaltungen
ET - published Version
PB - Universität
KW - BIST
KW - self-timed circuits
KW - scan design
KW - LFSR
KW - built-in self-test
KW - MISR
KW - Design for testability
PY - 2001
N2 - Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
CY - Hannover
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
Download citation