author = { Kesel, Frank AND Wunderlich, Hans-Joachim },

title = { Parametrisierte Speicherzellen zur Unterstützung des Selbsttests mit optimierten und konventionellen Zufallsmustern },

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keywords = { Selbsttest , Prüfprogramm , LSI },

year = {1989},

abstract = {Aus: Entwurf integrierter Schaltungen / Herwig Heckl (Hrsg.). - Sankt Augustin : GMD, 1989. - (GMD-Studien ; 155). - S. 75 - 84},

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url = { http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2 }