@misc
{TN_libero_mab2,
author = {
Domdey, Andreas
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Hafkemeyer, Kristian M.
AND
Krautschneider, Wolfgang
AND
Schröder, Dietmar
Technische Universität Hamburg-Harburg
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Technische Universität Hamburg-Harburg Institut für Nanoelektronik
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title = {
Simultaneous large-scale reliability analysis of ultra-thin MOS gate dielectrics using an automated test system
},
publisher = {},
isbn = {1684-9973},
year = {26 May 2008},
abstract = {Sonstige Körperschaft: Technische Universität Hamburg-Harburg},
abstract = {Sonstige Körperschaft: Technische Universität Hamburg-Harburg, Institut für Nanoelektronik},
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url = {
http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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