author = { Dietrich, Edgar AND Schulze, Alfred AND Ehret, Winfried AND Conrad, Stephan },

title = { Eignungsnachweis von Messsystemen },

edition = { 3., aktualisierte Aufl. } ,

publisher = {Hanser},

isbn = {9783446417472},

isbn = {3446417478},

keywords = { Messsystem , Eignung , Bewertung , Messtechnik , Qualitätsmaß },

year = {2008},

abstract = {Literaturverz. S. 120 - 121},

booktitle = {Pocket power},

address = { München },

url = { http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2 }