author = { ZuE 2015 Siegen AND Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik AND Informationstechnische Gesellschaft AND Gesellschaft für Informatik },

title = { ZuE 2015 8. GMM/ITG/GI-Symposium Reliability by Design : 21-23 Sept. 2015 },

publisher = {IEEE},

keywords = { Konferenzschrift , Entwurfsautomation , Zuverlässigkeit , Eingebettetes System },

year = {2015},

abstract = {Literaturangaben},

abstract = {Title from content provider},

address = { [Piscataway, NJ] },

url = { http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2 }