@misc {TN_libero_mab2,
author = { DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE AND German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE AND DIN Deutsches Institut für Normung e. V. AND DIN German Institute for Standardization },
title = { DIN EN 61967-2 Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 2: Messung der abgestrahlten Aussendungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 61967-2:2005); Deutsche Fassung EN 61967-2:2005 },
edition = { 2006-03-00 } ,
publisher = {Beuth Verlag},
keywords = { Messung , Prüfung , Prüfverfahren , Störaussendung , Prüfen , Leiterplatte , Prüfschaltung , Prüfkreis , Messverfahren , Störfeldstärke , Frequenzbereich , Informationstechnik , Breitbandübertragung , integrierter Schaltkreis , Prüfstromkreis , Elektronik , Prüfeinrichtung , Messwesen , Prüfmittel , integrierte Schaltung , elektromagnetische Strahlung , elektronisches Bauelement , Prüfbedingung , Elektrotechnik , Interfering emissions , Radiated emissions , Testing devices , Measurement , Electronic engineering , Checking equipment , Electromagnetic radiation , Information technology , Wide band transmission , Measuring techniques , Frequency ranges , Test circuits , Testing , Electrical engineering , Printed-circuit boards , Electronic equipment and components , Integrated circuits , Testing conditions , Microstructure électronique , Essai , Mesurage , Equipement de essai , Spectre électromagnétique , Electronique , Rayonnement électromagnétique , Circuit intégré , Microstructure , Circuit de test , Carte de circuit imprimé double face , Microélectronique , Chips de silicon , Circuit intégré de commutation , Conditions d'essai , Circuit microélectronique , Mesurage, essai et instruments , Carte de circuit imprimé , Electronique moléculaire , Métrologie , Dispositif d'essai , Transmission à large bande , Onde électromagnétique , Traitement de l'information , Intensité du Champ perturbateur , Dispositif électronique , Bande de fréquence , Metrologie , Carte de circuit imprimé ayant des trous métallisés , Matériel et composants électroniques , Composant électronique , Technique de mesure , Emission , Carte imprimée , Méthode de mesure , Carte de circuit imprimé simple face , Electrotechnique },
year = {2006-03-00},
booktitle = {DIN-Regelwerk},
booktitle = {Deutsche Normen},
address = { Berlin , Wien , Zürich },
url = { http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2 }
}
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