author = { DIN-Normenausschuss Qualitätsmanagement, Statistik und Zertifizierungsgrundlagen (NQSZ) AND Quality Management, Statistics and Certification Standards Committee AND DIN Deutsches Institut für Normung e. V. AND DIN German Institute for Standardization },

title = { DIN ISO 11843-5 Erkennungsfähigkeit - Teil 5: Verfahren in den Fällen der linearen und der nicht-linearen Kalibrierung (ISO 11843-5:2008); Text Deutsch und Englisch },

edition = { 2010-08-00 } ,

publisher = {Beuth Verlag},

keywords = { Nachweisführung , Nachprüfung , Analyse , Qualitätskontrolle , Begriffe , Interpretation , Messgerät , minimal , Qualitätsnachweis , Auswertung , Daten , statistische Auswertung , Nachweis , ELISA , Verifizierung , Messinstrument , linear , Kleinstwert , mindest , Wahrscheinlichkeit , Datenauswertung , Messwesen , Datenanalyse , Kalibrierverfahren , Kalibrieren , Gütenachweis , Messung , Methodologie , Stochastik , Qualitätslenkung , Minimum , nichtlinear , Messverfahren , Kalibrierung , Definition , Güteüberwachung , linienförmig , Eichung , Abweichung , Qualitätssteuerung , Wahrscheinlichkeitsrechnung , Erkennung , Messeigenschaft , Methodik , fehlerhafte Abweichung , Statistik , Qualitätsmanagement , Errors , Linear , Quality control , Analysis , Variations , Probability , Measuring techniques , Measurement characteristics , Definitions , Verification , Quality management , ELISA , Non-linear , Measuring instruments , Measurement , Statistical methods of analysis , Probability calculations , Data analysis , Interpretations , Calibration , Data , Methodologies , Systemology , Statistics , Stochastics , Deviations , Detection , Minimum , Interprétation , Contrôle de la qualité , Méthodologie , Procédure d'étalonnage , Etalonnage , Caractéristique de mesurage , Théorie des systèmes , Contrôle de qualité , Analyse de données , Etalonnement , Mesurage, essai et instruments , Stochastique , Instrument de mesure , Linéaire , non linéaire , Technique des systèmes , Gestion de la qualité , Metrologie , Méthode de mesure , Statistique , Instrument de mesurage , Calibrage , Authentification , Vérification , Identification , Mesurage , Analyse des données , Appareil de mesure , Déviation , Calcul des probabilités , Mathématique statistique , Métrologie , Définition , Justification , Minimum , Analyse , Erreur , Probabilité , Minimale , Donnée , Technique de mesure , Ecart , Analyse statistique },

year = {2010-08-00},

abstract = {Internationale Übereinstimmung mit: ISO 11843-5 (2008-06) - identisch},

booktitle = {DIN-Regelwerk},

booktitle = {Deutsche Normen},

address = { Berlin , Wien , Zürich },

url = { http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2 }