Skip to contents Dietrich, Edgar [Author]; Conrad, Stephan [Author] Eignungsnachweis von Messsystemen - [4., überarb. aktualisierte Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München: Hanser, 2015 Published in: Pocket Power Dietrich, Edgar [Author]; Radeck, Michael [Author] Prüfprozesseignung nach VDA 5 und ISO 22514-7 - [1. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München; Wien: Hanser, c 2015 Published in: Pocket Power Hausotte, Tino [Author] ; Jäger, Gerd [Other]; Schmitt, Robert [Other]; Gerlach, Gerald [Other] Nanopositionier- und Nanomessmaschinen : Geräte für hochpräzise makro- bis nanoskalige Oberflächen- und Koordinatenmessungen - [1. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Pro Business, 2011 Hochrein, Thomas [Editor]; Alig, Ingo [Other] Prozessmesstechnik in der Kunststoffaufbereitung - [1. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Würzburg: Vogel Buchverl., 2011 Published in: Vogel-Fachbuch Fenchel, Günter [Editor] Smart Metering in Deutschland : Technik, Kommunikation und Prozesse für Elektrizität, Wasser, Wärme und Gas Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Frankfurt, M.; Berlin; Bonn; Essen: EW Medien und Kongresse, [2010] Dietrich, Edgar [Other]; Schulze, Alfred [Other]; Ehret, Winfried [Other]; Conrad, Stephan [Other] Eignungsnachweis von Messsystemen - [3., aktualisierte Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München; Wien [u.a.]: Hanser, 2008 Published in: Pocket power Dietrich, Edgar [Author]; Schulze, Alfred [Author]; Conrad, Stephan [Author] ; Ehret, Winfried [Other] Eignungsnachweis von Messsystemen - [2., aktualisierte Aufl] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München; Wien [u.a.]: Hanser, 2005 Nawrocki, Waldemar [Author] Measurement systems and sensors Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Boston, Mass. [u.a.]: Artech House, 2005 Uciński, Dariusz [Author] Optimal measurement methods for distributed parameter system identification Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, 2005 Published in: Systems and control series Joshi, M. G. [Author] Transducers for instrumentation Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New Delhi, India [u.a.]: Laxmi Publ., [ca. 2005] Hasche, Klaus [Editor] ; Seminar on Quantitative Microscopy 5 2001 Bergisch Gladbach, Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods 1 2001 Bergisch Gladbach Dimensional measurements in the micro- and nanometre range : proceedings of the 5th Seminar on Quantitative Microscopy and 1st Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods; NanoScale 2001; November 15th and 16th, 2001, Bergisch Gladbach, Germany Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Bremerhaven: Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wiss., 2001 Published in: PTB-Bericht ; 44 Lehle, Peter [Author] Dynamische und strukturierte Beleuchtung für die optische Meßtechnik Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Stuttgart: ITO, 1998 Published in: Universität Stuttgart: Berichte aus dem Institut für Technische Optik ; 35 Boguslavskij, Pavel S. [Author] Nemecko-russkij slovar' po izmeritel'noj technike : okolo 28 000 terminov = Deutsch-russisches Woerterbuch der Messtechnik Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Moskva: Russkij Jazyk, 1984 Kühne, Harro [Author] Schaltungspraxis für Messgeräte : Schaltbeispiele für Mess- u. Prüfgeräte mit integrierten Schaltkreisen - [2., durchges. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Militärverlag der Dt. Demokrat. Republik, 1985 Published in: Amateurbibliothek Doebelin, Ernest O. [Author] Measurement systems : application and design - [3. ed.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York: McGraw-Hill, 1983 Šljandin, Viktor M. [Author] Cifrovye izmeritelʹnye ustrojstva - [Izd. 2., pererab. i dop.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Moskva: Vysšaja Škola, 1981 Rozov, B. S. [Adapter] Izmeritelʹnye skanirujuščie pribory Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Moskva: Mašinostroenie, 1980 Carl Mahr GmbH Feinmeßgeräte : Meßzeuge, anzeigende Meßgeräte, Meß- und Prüfmaschinen, Lehren und Endmaße Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Esslingen a. N.: Mahr, [ca. 1974] Greif, Heinz [Author] Meßwert-Registriertechnik Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Verl. Technik, 1967 Published in: Reihe Automatisierungstechnik ; 53 Doebelin, Ernest O. [Author] Measurement systems : application and design Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1966
Dietrich, Edgar [Author]; Conrad, Stephan [Author] Eignungsnachweis von Messsystemen - [4., überarb. aktualisierte Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München: Hanser, 2015 Published in: Pocket Power
Dietrich, Edgar [Author]; Radeck, Michael [Author] Prüfprozesseignung nach VDA 5 und ISO 22514-7 - [1. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München; Wien: Hanser, c 2015 Published in: Pocket Power
Hausotte, Tino [Author] ; Jäger, Gerd [Other]; Schmitt, Robert [Other]; Gerlach, Gerald [Other] Nanopositionier- und Nanomessmaschinen : Geräte für hochpräzise makro- bis nanoskalige Oberflächen- und Koordinatenmessungen - [1. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Pro Business, 2011
Hochrein, Thomas [Editor]; Alig, Ingo [Other] Prozessmesstechnik in der Kunststoffaufbereitung - [1. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Würzburg: Vogel Buchverl., 2011 Published in: Vogel-Fachbuch
Fenchel, Günter [Editor] Smart Metering in Deutschland : Technik, Kommunikation und Prozesse für Elektrizität, Wasser, Wärme und Gas Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Frankfurt, M.; Berlin; Bonn; Essen: EW Medien und Kongresse, [2010]
Dietrich, Edgar [Other]; Schulze, Alfred [Other]; Ehret, Winfried [Other]; Conrad, Stephan [Other] Eignungsnachweis von Messsystemen - [3., aktualisierte Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München; Wien [u.a.]: Hanser, 2008 Published in: Pocket power
Dietrich, Edgar [Author]; Schulze, Alfred [Author]; Conrad, Stephan [Author] ; Ehret, Winfried [Other] Eignungsnachweis von Messsystemen - [2., aktualisierte Aufl] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. München; Wien [u.a.]: Hanser, 2005
Nawrocki, Waldemar [Author] Measurement systems and sensors Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Boston, Mass. [u.a.]: Artech House, 2005
Uciński, Dariusz [Author] Optimal measurement methods for distributed parameter system identification Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, 2005 Published in: Systems and control series
Joshi, M. G. [Author] Transducers for instrumentation Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New Delhi, India [u.a.]: Laxmi Publ., [ca. 2005]
Hasche, Klaus [Editor] ; Seminar on Quantitative Microscopy 5 2001 Bergisch Gladbach, Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods 1 2001 Bergisch Gladbach Dimensional measurements in the micro- and nanometre range : proceedings of the 5th Seminar on Quantitative Microscopy and 1st Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods; NanoScale 2001; November 15th and 16th, 2001, Bergisch Gladbach, Germany Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Bremerhaven: Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wiss., 2001 Published in: PTB-Bericht ; 44
Lehle, Peter [Author] Dynamische und strukturierte Beleuchtung für die optische Meßtechnik Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Stuttgart: ITO, 1998 Published in: Universität Stuttgart: Berichte aus dem Institut für Technische Optik ; 35
Boguslavskij, Pavel S. [Author] Nemecko-russkij slovar' po izmeritel'noj technike : okolo 28 000 terminov = Deutsch-russisches Woerterbuch der Messtechnik Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Moskva: Russkij Jazyk, 1984
Kühne, Harro [Author] Schaltungspraxis für Messgeräte : Schaltbeispiele für Mess- u. Prüfgeräte mit integrierten Schaltkreisen - [2., durchges. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Militärverlag der Dt. Demokrat. Republik, 1985 Published in: Amateurbibliothek
Doebelin, Ernest O. [Author] Measurement systems : application and design - [3. ed.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York: McGraw-Hill, 1983
Šljandin, Viktor M. [Author] Cifrovye izmeritelʹnye ustrojstva - [Izd. 2., pererab. i dop.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Moskva: Vysšaja Škola, 1981
Rozov, B. S. [Adapter] Izmeritelʹnye skanirujuščie pribory Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Moskva: Mašinostroenie, 1980
Carl Mahr GmbH Feinmeßgeräte : Meßzeuge, anzeigende Meßgeräte, Meß- und Prüfmaschinen, Lehren und Endmaße Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Esslingen a. N.: Mahr, [ca. 1974]
Greif, Heinz [Author] Meßwert-Registriertechnik Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Verl. Technik, 1967 Published in: Reihe Automatisierungstechnik ; 53
Doebelin, Ernest O. [Author] Measurement systems : application and design Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1966
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> Subject Skip to next facet Technology (50) Wert ausschließen Physics (2) Wert ausschließen Economics (2) Wert ausschließen Chemistry and pharmacology (1) Wert ausschließen Mathmatics (1) Wert ausschließen Slavic studies (1) Wert ausschließen Show more show less
> Creator Skip to next facet Dietrich, Edgar (7) Wert ausschließen Conrad, Stephan (4) Wert ausschließen Carl Zeiss Jena (3) Wert ausschließen Klingler, Rudolf (3) Wert ausschließen Schulze, Alfred (3) Wert ausschließen Ausschuss für Wirtschaftliche Fertigung (2) Wert ausschließen British Standards Institution (2) Wert ausschließen Carl Mahr GmbH (2) Wert ausschließen Doebelin, Ernest O. (2) Wert ausschließen Ehret, Winfried (2) Wert ausschließen Radeck, Michael (2) Wert ausschließen Alig, Ingo (1) Wert ausschließen Allgemeine Elektricitäts-Gesellschaft (1) Wert ausschließen Ausschuß für Wirtschaftliche Fertigung Ausschuß für Messen in der Werkstatt (1) Wert ausschließen Berndt, Georg (1) Wert ausschließen Boguslavskij, Pavel S. (1) Wert ausschließen Engelmann, Max (1) Wert ausschließen Feinmeßzeugfabrik Keilpart Suhl (1) Wert ausschließen Fenchel, Günter (1) Wert ausschließen Gerlach, Gerald (1) Wert ausschließen Greif, Heinz (1) Wert ausschließen Guillaume, Charles-Édouard (1) Wert ausschließen Hasche, Klaus (1) Wert ausschließen Hausotte, Tino (1) Wert ausschließen Hochrein, Thomas (1) Wert ausschließen Huchtemann, Ernst (1) Wert ausschließen Ivanov, A. G. (1) Wert ausschließen Joshi, M. G. (1) Wert ausschließen Judge, Arthur W. (1) Wert ausschließen Jäger, Gerd (1) Wert ausschließen Kienzle, Otto (1) Wert ausschließen Koch, Richard (1) Wert ausschließen Kühne, Harro (1) Wert ausschließen Lehle, Peter (1) Wert ausschließen Makarov, A. N. (1) Wert ausschließen Mauser-Messzeug GmbH Oberndorf, Nerckar (1) Wert ausschließen Maß-Industrie GmbH (1) Wert ausschließen Nawrocki, Waldemar (1) Wert ausschließen Rozov, B. S. (1) Wert ausschließen Schmitt, Robert (1) Wert ausschließen Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods 1 2001 Bergisch Gladbach (1) Wert ausschließen Seminar on Quantitative Microscopy 5 2001 Bergisch Gladbach (1) Wert ausschließen USA National Bureau of Standards (1) Wert ausschließen Uciński, Dariusz (1) Wert ausschließen Šerman, M. J. (1) Wert ausschließen Šljandin, Viktor M. (1) Wert ausschließen Show more show less
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