%0 Generic
%T On the interpretation of time-resolved surface reflectivity measurements during the laser annealing of Si thin films
%A Boneberg, Johannes
%A Leiderer, Paul
%I Bibliothek der Universität Konstanz
%D 1998
%X Aus: Physica Status Solidi / A, Vol. 166 (1998), Issue 2, S. 643-650
%C Bibliothek der Universität Konstanz
%C Konstanz
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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