%0 Generic
%T Simultaneous large-scale reliability analysis of ultra-thin MOS gate dielectrics using an automated test system
%A Domdey, Andreas
%A Hafkemeyer, Kristian M.
%A Krautschneider, Wolfgang
%A Schröder, Dietmar
%A Technische Universität Hamburg-Harburg
%A Technische Universität Hamburg-Harburg Institut für Nanoelektronik
%@ 1684-9973
%D 26 May 2008
%X Sonstige Körperschaft: Technische Universität Hamburg-Harburg
%X Sonstige Körperschaft: Technische Universität Hamburg-Harburg, Institut für Nanoelektronik
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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