%0 Book
%T Eignungsnachweis von Messsystemen
%A Dietrich, Edgar
%A Schulze, Alfred
%A Ehret, Winfried
%A Conrad, Stephan
%7 3., aktualisierte Aufl.
%I Hanser
%@ 9783446417472
%@ 3446417478
%K Messsystem
%K Eignung
%K Bewertung
%K Messtechnik
%K Qualitätsmaß
%D 2008
%X Literaturverz. S. 120 - 121
%C Hanser
%C München
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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