%0 Generic
%T ZuE 2015 8. GMM/ITG/GI-Symposium Reliability by Design : 21-23 Sept. 2015
%A ZuE 2015 Siegen
%A Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik
%A Informationstechnische Gesellschaft
%A Gesellschaft für Informatik
%I IEEE
%K Konferenzschrift
%K Entwurfsautomation
%K Zuverlässigkeit
%K Eingebettetes System
%D 2015
%X Literaturangaben
%X Title from content provider
%C IEEE
%C [Piscataway, NJ]
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
Download citation