%0 Generic
%T Impact of the Ohmic Electrode on the Endurance of Oxide-Based Resistive Switching Memory
%A Wiefels, Stefan
%A Von Witzleben, Moritz
%A Huttemann, Michael
%A Bottger, Ulrich
%A Waser, Rainer
%A Menzel, Stephan
%I IEEE
%@ 1557-9646
%@ 0197-6370
%@ 0018-9383
%@ 2379-8653
%@ 2379-8661
%@ 0096-2430
%D 2021
%X Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
%C IEEE
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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