%0
Generic
%T
DIN EN 62435-2*VDE 0884-135-2
Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 2: Schädigungsmechanismen (IEC 62435-2:2017); Deutsche Fassung EN 62435-2:2017
%A DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
%A German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE
%A DIN Deutsches Institut für Normung e. V.
%A DIN German Institute for Standardization
%7 2017-10-00
%I Beuth Verlag
%K Halbleiterbauelement
%K Prüfung
%K Prüfverfahren
%K Begriffe
%K Prüfen
%K Lagerungsdauer
%K Definition
%K Lagerfähigkeit
%K Zersetzung
%K Lagerbeständigkeit
%K Lagerbedingung
%K Lagerzeit
%K Speicherung
%K Elektronik
%K Langzeitverhalten
%K Lagerdauer
%K elektronisches Bauelement
%K Mikroelektronik
%K Langzeitlagerung
%K Aufbewahrung
%K Lagerung
%K Decomposition
%K Storage
%K Electronic engineering
%K Semiconductor devices
%K Shelf life
%K Long-time behaviour
%K Long-time storage
%K Storage condition
%K Microelectronics
%K Testing
%K Definitions
%K Electronic equipment and components
%K Storage time
%K Bearings
%K Deterioration
%K Entreposage
%K Durée de stabilité
%K Essai
%K Electronique
%K Microélectronique
%K Dispositif semi-conducteur
%K Archivage
%K Décomposition
%K Electronique moléculaire
%K Conservation
%K Définition
%K Stockage
%K Propriété d'endurance
%K Dispositif électronique
%K Condition de stockage
%K Matériel et composants électroniques
%K Composant électronique
%K Stabilité au stockage
%K Stockage à long terme
%D 2017-10-00
%X Internationale Übereinstimmung mit: EN 62435-2 (2017-04), IDT*IEC 62435-2 (2017-01), IDT
%C Beuth Verlag
%C Berlin
%C Wien
%C Zürich
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2