TY -
BOOK
AU - Schad, Rainer
TI -
Leitfähigkeit ultradünner epitaktischer Silberschichten auf Silizium (111)
ET - Als Ms. gedr.
PB - VDI-Verl.
SN - 3181426091
KW - Hochschulschrift
KW - Silicium
KW - Halbleitersubstrat
KW - Silber
KW - Dünne Schicht
KW - Elektrische Leitfähigkeit
PY - 1991
BT - Fortschritt-Berichte / VDI ; Reihe 9, Elektronik ; Nr. 126
CY - Düsseldorf
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -