%0
Book
%T
Infrared characterization for microelectronics
%A
Lau, W. S.
%I
World Scientific
%@
9810223528
%K
Infrarotspektroskopie
%D
1999
%X
Literaturangaben
%C
World Scientific
%C
Singapore [u.a.]
%U
http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
Download citation