TY
-
BOOK
AU
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Lau, W. S.
TI
-
Infrared characterization for microelectronics
PB
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World Scientific
SN
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9810223528
KW
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Infrarotspektroskopie
PY
-
1999
N2
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Literaturangaben
CY
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Singapore [u.a.]
UR
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http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER
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