%0 Book
%T Die Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen und ihr Zusammenhang mit Physik, Chemie und Metallkunde ; mit 21 Tabellen
%A Eigler, Hans
%I Expert Verl.
%@ 3816921590
%K Halbleiterbauelement
%K Gitterbaufehler
%K Degradation Technik
%K Zuverlässigkeit
%K Integrierte Schaltung
%K Optoelektronisches Bauelement
%K Mikromechanik
%K Mikroelektronik
%K Mikrosystemtechnik
%D 2003
%X Literaturverz. S. [323]-354
%C Expert Verl.
%C Renningen-Malmsheim
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
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