TY -
BOOK
AU - Eigler, Hans
TI -
Die Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen
und ihr Zusammenhang mit Physik, Chemie und Metallkunde ; mit 21 Tabellen
PB - Expert Verl.
SN - 3816921590
KW - Halbleiterbauelement
KW - Gitterbaufehler
KW - Degradation Technik
KW - Zuverlässigkeit
KW - Integrierte Schaltung
KW - Optoelektronisches Bauelement
KW - Mikromechanik
KW - Mikroelektronik
KW - Mikrosystemtechnik
PY - 2003
N2 - Literaturverz. S. [323]-354
CY - Renningen-Malmsheim
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -