TY -
BOOK
AU - Krämer, Frank
TI -
Beanspruchungsanalyse von Ball Grid Array-Kontaktstrukturen beim Jedec-Droptest
ET - Als Ms. gedr.
PB - VDI-Verl.
SN - 9783183392094
KW - Hochschulschrift
KW - Elektronisches Bauelement
KW - Zuverlässigkeit
KW - Gedruckte Schaltung
KW - Ball Grid Array
KW - Lötverbindung
KW - Fallversuch
PY - 2013
N2 - Mit dt. u. engl. Zsfassung
BT - Fortschritt-Berichte VDI ; Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik ; 392
CY - Düsseldorf
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -