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Generic
%T
Charakterisierung und Modellierung der Leckstrommechanismen in modernen DRAM high-k Materialien
%A Blank, Oliver
%K Dynamisches RAM ; Dielektrische Schicht ; Leckstrom ; Tunneleffekt
%K Hochschulschrift
%D 2006
%U http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2