TY -
GEN
AU - Blank, Oliver
TI -
Charakterisierung und Modellierung der Leckstrommechanismen in modernen DRAM high-k Materialien
KW - Dynamisches RAM ; Dielektrische Schicht ; Leckstrom ; Tunneleffekt
KW - Hochschulschrift
PY - 2006
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -