TY - GEN
AU - Dudley, Michael
AU - Wang, Huanhuan
AU - Wu, Fangzhen
AU - Yang, Yu
AU - Guo, Jianqiu
AU - Chung, Gil
AU - Thomas, Berndt
AU - Sanchez, Edward K
AU - Mueller, Stephan
AU - Hansen, Darren
AU - Loboda, Mark
AU - Zhang, Jie
TI - Characterization of Defects in SiC Substrates and Epilayers
PB - The Electrochemical Society
SN - 2151-2043
KW - General Medicine
PY - 2014
UR - http://slubdd.de/katalog?TN_libero_mab2
ER -
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