Skip to contents

  3. Alefeld, G. [Contributor]; Atsumi, A. [Contributor]; Basar, Y. [Contributor]; Bekg, L [Contributor]; Chan Man Fong, C. F [Contributor]; Dunham, C. B [Contributor]; Grohne, D. [Contributor]; Hata, T [Contributor]; Heinrich, H. [Editor]; Henk, H. [Contributor]; Hknnio, K. [Contributor]; Itou, S. [Contributor]; Kappel, F. [Contributor]; Krawczyk, R. [Contributor]; Mathur, Y. D. [Contributor]; Mitter, J. [Contributor]; Motjlden, T. H [Contributor]; Mucha, A. [Contributor]; Norstrud, H. [Contributor]; Weidenhammer, F. [Contributor]; Wu, . M. [Contributor]

    Zeitschrift für Angewandte Mathematik und Mechanik : Band 52, Heft 5, Mai 1972 - [Reprint 2021]

    Books
    View online
    Schließen
    Close

    Bookmarks

    You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this.

    Berlin; Boston: De Gruyter, 2023

    Published in: Zeitschrift für Angewandte Mathematik und Mechanik ; Band 52, Heft 5

  4. Tollmien, Walter [Author] ; Ahlstrom, H. G. [Contributor]; Albring, Werner [Contributor]; Betz, Albert [Contributor]; Dizioğlu, Ekir [Contributor]; Ferrari, Carlo [Contributor]; Frössel, Wilhelm [Contributor]; Fériet, J. Kamfé de [Contributor]; Glaser, Helmuth [Contributor]; Grohne, Diether [Contributor]; Günther, Wilhelm [Contributor]; Herbeck, Margot [Contributor]; Hoult, D. P. [Contributor]; Kauderer, Hans [Contributor]; Keune, Friedrich [Contributor]; Kuethe, A. M. [Contributor]; Kármán, Theodore Von [Contributor]; Laufer, John [Contributor]; Liepmann, H. W. [Contributor]; Matschat, Klaus [Contributor]; Müller, Ernst-August [Contributor]; Oswatitsch, Klaus [Contributor]; Pai, Shih-I [Contributor]; Pflüger, Alf [Contributor]; Reichardt, Hans [Contributor]; [...]

    Miszellaneen der angewandten Mechanik : Festschrift Walter Tollmien zum 60. Geburtstag am 13. Oktober 1960 von seinen Freunden und Schülern - [Reprint 2021]

    Books
    View online
    Schließen
    Close

    Bookmarks

    You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this.

    Berlin; Boston: De Gruyter, [2022]

  13. Bergmann, D.; Bodermann, B.; Bosse, H.; Buhr, E.; Dai, G.; Dixson, R.; Häßler-Grohne, W.; Hahm, K.; Wurm, M.

    Photomask linewidth comparison by PTB and NIST

    Conference Proceedings
    View online
    Schließen

    Access

    Close

    Bookmarks

    You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this.

    SPIE, 2015

    Published in: SPIE Proceedings, 9636 (2015), Seite 96360S

  16. Gans, F.; Liebe, R.; Richter, J.; Schatz, Th.; Hauffe, B.; Hillmann, F.; Dobereiner, S.; Bruck, H.-J.; Scheuring, G.; Brendel, B.; Bettin, L.; Roth, K.-D.; Steinberg, W.; Schluter, G.; Speckbacher, P.; Sedlmeier, W.; Scherubl, T.; Hassler-Grohne, W.; Frase, C. G.; Czerkas, S.; Dirscherl, K.; Bodermann, B.; Mirande, W.; Bosse, H.

    Results of a round robin measurement on a new CD mask standard

    Conference Proceedings
    View online
    Schließen

    Access

    Close

    Bookmarks

    You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this.

    SPIE, 2005

    Published in: SPIE Proceedings, 5835 (2005), Seite 122