IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (112)
Wert ausschließen
Institute of Electrical and Electronics Engineers (63)
Wert ausschließen
IEEE Computer Society (30)
Wert ausschließen
IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology (23)
Wert ausschließen
IEEE Computer Society Design Automation Technical Committee (11)
Wert ausschließen
IEEE Council on Electronic Design Automation (11)
Wert ausschließen
IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI (9)
Wert ausschließen
Institute of Electrical and Electronics Engineers Philadelphia Section (9)
Wert ausschließen
IEEE Computer Society Technical Committee on Fault Tolerant Computing (8)
Wert ausschließen
IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee (8)
Wert ausschließen
Miclea, Liviu (8)
Wert ausschließen
Rajsuman, Rochit (6)
Wert ausschließen
Wik, Thomas (5)
Wert ausschließen
Abadir, Magdy S. (4)
Wert ausschließen
Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society Technical Committee on Electrical Design, Modeling and Simulation (4)
Wert ausschließen
Ethnikon kai Kapodistriakon Panepistēmion (4)
Wert ausschließen
European Design Automation Association (4)
Wert ausschließen
IEEE Solid-State Circuits Council (4)
Wert ausschließen
IEEE Solid-State Circuits Society (4)
Wert ausschließen
Laboratoire TIMA Grenoble (3)
Wert ausschließen
Metra, Cecilia (3)
Wert ausschließen
Stoian, Ioan (3)
Wert ausschließen
Zorian, Yervant (3)
Wert ausschließen
Bolchini, Christiana (2)
Wert ausschließen
Charkivsʹkyj Nacionalʹnyj Universytet Radioelektroniky (2)
Wert ausschließen
Gizopoulos, Dimitris (2)
Wert ausschließen
IEEE Computer Society Technical Committee on Security and Privacy (2)
Wert ausschließen
Menon, Sankaran (2)
Wert ausschließen
Qinghua-Daxue Taipeh (2)
Wert ausschließen
Renovell, Michel (2)
Wert ausschließen
Agencia Nacional de Investigación e Innovación Montevideo (1)
Wert ausschließen
Association for Computing Machinery Special Interest Group on Design Automation (1)
Wert ausschließen
Borrione, Dominique (1)
Wert ausschließen
Champac, Victor (1)
Wert ausschließen
Chapman, Glenn (1)
Wert ausschließen
Components, Packaging & Manufacturing Technology Society Technical Committee on Electrical Design, Modeling and Simulation (TC-12) (1)
Wert ausschließen
Conference on Design, Automation & Test in Europe 2017 Lausanne (1)
Wert ausschließen
Courtois, Bernard (1)
Wert ausschließen
DATE 1999 München (1)
Wert ausschließen
Denshi-Jōhō-Tsūshin-Gakkai Technical Group on Dependable Computing System (1)
Wert ausschließen
Deutsche Forschungsgemeinschaft (1)
Wert ausschließen
Deutsches Forschungszentrum für Künstliche Intelligenz (1)
Wert ausschließen
Electronic Design Automation Consortium (1)
Wert ausschließen
Girard, Patrick (1)
Wert ausschließen
Guo li qing hua da xue (Hsinchu, Taiwan) (1)
Wert ausschließen
Hunan-Daxue Changsha (1)
Wert ausschließen
IEEE Asian Test Symposium 25. 2016 Hiroshima (1)
Wert ausschließen
IEEE Asian Test Symposium 26. 2017 Taipeh (1)
Wert ausschließen
IEEE Asian Test Symposium 27. 2018 Hefei (1)
Wert ausschließen
IEEE Asian Test Symposium 29. 2020 Online (1)
Wert ausschließen
IEEE Computer Society Technical Committee on Dependable Computing and Fault Tolerance (1)
Wert ausschließen
IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (TTTC) (1)
Wert ausschließen
IEEE East-West Design & Test Symposium 16. 2018 Kasan (1)
Wert ausschließen
IEEE European Test Symposium (10th :2005 :Tallinn, Estonia) (1)
Wert ausschließen
IEEE European Test Symposium 23. 2018 Bremen (1)
Wert ausschließen
IEEE European Test Symposium 25. 2020 Online (1)
Wert ausschließen
IEEE European Test Workshop (2000 :Cascais, Portugal) (1)
Wert ausschließen
IEEE European Test Workshop (2003 :Maastricht, Netherlands) (1)
Wert ausschließen
IEEE European Test Workshop (2003 :Masstricht, Netherlands) (1)
Wert ausschließen
IEEE European Test Workshop (7th :2002 :Corfu, Greece) (1)
Wert ausschließen
IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics 20. Klausenburg (1)
Wert ausschließen
IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics 21. 2018 Cluj-Napoca (1)
Wert ausschließen
IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics 22. 2020 Cluj-Napoca (1)
Wert ausschließen
IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop 18. 2016 Santa Cruz, Calif (1)
Wert ausschließen
IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop 19. 2017 Santa Cruz, Calif (1)
Wert ausschließen
IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop (10th :2005 :Napa Valley, Calif.) (1)
Wert ausschließen
IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop (2000 :Berkeley, Calif.) (1)
Wert ausschließen
IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop (6th :2001 :Monterey, Calif.) (1)
Wert ausschließen
IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop (7th :2002 :Cannes, France) (1)
Wert ausschließen
IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop (8th :2003 :San Francisco, Calif.) (1)
Wert ausschließen
IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop 21. 2016 San Feliú de Guixols (1)
Wert ausschließen
IEEE International On-Line Testing Symposium (9th :2003 :Kos Island, Greece) (1)
Wert ausschließen
IEEE International On-Line Testing Workshop (6th :2000 :Palma de Mallorca, Spain) (1)
Wert ausschließen
IEEE International On-Line Testing Workshop (7th :2001 :Giardini Naxos, Taormina, Italy) (1)
Wert ausschließen
IEEE International On-Line Testing Workshop (8th :2002 :Isle of Bendor, France) (1)
Wert ausschließen
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 29. 2016 Storrs, Conn (1)
Wert ausschließen
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 30. 2017 Cambridge (1)
Wert ausschließen
IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust 10. 2017 McLean, Va (1)
Wert ausschließen
IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust 2018 Washington, DC (1)
Wert ausschließen
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 22. 2016 San Feliú de Guixols (1)
Wert ausschließen
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 23. 2017 Thessaloniki (1)
Wert ausschließen
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 25. 2019 Rhodos, Stadt (1)
Wert ausschließen
IEEE International Verification and Security Workshop 4. 2019 Rhodos, Stadt (1)
Wert ausschließen
IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications (1st :2002 :Christchurch, N.Z.) (1)
Wert ausschließen
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (11th :2003 :San Jose, Calif.) (1)
Wert ausschließen
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (12th :2004 :San Jose, Calif.) (1)
Wert ausschließen
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (13th :2005 :Taipei, Taiwan) (1)
Wert ausschließen
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (1995 :San Jose, Calif.) (1)
Wert ausschließen
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (1997 :San Jose, Calif.) (1)
Wert ausschließen
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (1999 :San Jose, Calif.) (1)
Wert ausschließen
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (2002 :Isle of Bendor, France) (1)
Wert ausschließen
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (8th :2000 :San Jose, Calif.) (1)
Wert ausschließen
IEEE Latin American Test Symposium 20. 2019 Santiago de Chile (1)
Wert ausschließen
IEEE Latin-American Test Symposium 21. 2020 Online (1)
Wert ausschließen
IEEE Latin-American Test Symposium 22. 2021 Online (1)
Wert ausschließen
IEEE VLSI Test Symposium 35. 2017 Las Vegas, Nev (1)
Wert ausschließen
IEEE Workshop on Signal Propagation on Interconnects (6th :2002,Pisa, Italy) (1)
Wert ausschließen
IEEE Xplore (Online service) (1)
Wert ausschließen
Inoue, Tomoo (1)
Wert ausschließen
Institut Polytechnique de Grenoble (1)
Wert ausschließen