Skip to contents

  4. Alì, Giuseppe [Author]; Rotundo, Nella [Author] ; Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik

    Existence and uniqueness of solution for multidimensional parabolic PDAEs arising in semiconductor modeling

    Books
    View online
    Schließen
    Close

    Bookmarks

    You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this.

    Berlin: Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik Leibniz-Institut im Forschungsverbund Berlin e.V., 2019

    Published in: Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik: Preprint ; 2607

  12. Farrell, Patricio [Author]; Kayser, Stefan [Author]; Rotundo, Nella [Author] ; Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik

    Detecting striations via the lateral photovoltage scanning method without screening effect

    Books
    View online
    Schließen
    Close

    Bookmarks

    You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this.

    Berlin: Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik Leibniz-Institut im Forschungsverbund Berlin e.V., 2020

    Published in: Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik: Preprint ; 2785

  16. Farrell, Patricio [Author]; Kayser, Stefan [Author]; Rotundo, Nella [Author] ; Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik

    Modeling and simulation of the lateral photovoltage scanning method

    Books
    View online
    Schließen
    Close

    Bookmarks

    You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this.

    Berlin: Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik Leibniz-Institut im Forschungsverbund Berlin e.V., 2020

    Published in: Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik: Preprint ; 2784