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  1. Richter, Uwe [Author] ; Sentech Instruments GmbH Berlin

    Verbundprojekt EPICLens: Uniformitätskontrolle optischer Präzisionsbeschichtungen auf 2D- und 3D-Komponenten; Teilprojekt: Untersuchung der in-situ Beschichtungskontrolle an gewölbten Prüflingen mittels Transmission : Abschlussbericht für den Zeitraum 1.8.2018 bis 31.03.2022

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    Berlin: SENTECH, 19.09.22

  2. Schulze, Marcel [Contributor] ; Sentech Instruments GmbH Berlin

    Wachstumskern: PolyPhotonics Berlin - Optische Komponenten aus Kunststoff, Verbundprojekt 1: Wellenleitermaterialien auf Polymerbasis für optische Anwendungen, Teilprojekt 1.5: Stukturierung : Abschlussbericht : Laufzeit und Berichtszeitraum: 01.09.2016-31.08.2019

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    [Berlin]: [SENTECH Instruments GmbH], 25.02.2020

  3. Gargouri, Hassan [Contributor] ; Sentech Instruments GmbH Berlin

    Wachstumskern: PolyPhotonics Berlin - optische Komponenten aus Kunststoff; Verbundprojekt 2: Chip- und Aufbautechnologien; Teilprojekt 2.4: Strukturierung und Verkapselung : Abschlussbericht : Laufzeit: 01.09.2016-31.08.2019 : Berichtszeitraum: 01.09.2016-31.08.2019

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    [Berlin]: SENTECH Instruments GmbH, 30.10.2019

  4. Richter, Uwe [Other] ; Sentech Instruments GmbH Berlin

    Kurzbez. des Vorhabens: IOMM : [Verbundprojekt: Innovative opto-mikromechanische Messtechniken - IOMM; Teilvorhaben: Optisches 3D Mikroprofilmesssystem] ; Abschlussbericht ; Berichtszeitraum: 01.04.2005 - 30.09.2008

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    [Berlin], 2009

  5. Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Accurion GmbH, Sentech Instruments GmbH Berlin

    "Standardisierung und Normung der Ellipsometrie als universeller Spektroskopie" : gemeinsamer Abschlussbericht WIPANO-Vorhaben : Acronym: SNELLIUS : Berichtszeitraum 01.10.2018-31.03.2021

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    [Berlin]: [BAM], [2021?]

  6. Dittmar, Georg [Author]; Erfurt, Darja [Author]; Galonska, Kristin [Author]; Hála, Matej [Author]; Klenk, Reiner [Author]; Körner, Stefan [Author]; Menner, Richard [Author]; Niesen, Thomas [Author]; Panckow, Andreas [Author]; Schorn, Dieter [Author]; Sittinger, Volker [Author]; Szyszka, Bernd [Author] ; Avancis GmbH, Solayer GmbH, Sentech Instruments GmbH Berlin, MAGPULS Stromversorgungs Systeme GmbH, Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie, Fraunhofer-Institut für Schicht- und Oberflächentechnik, Technische Universität Berlin, Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg

    Schlussbericht im Verbundvorhaben Transparente Leitende Schichten (TCO) für CIGS Absorber : Akronym: TCO4CIGS : 6. Energieforschungsprogramm - Erneuerbare Energien - Photovoltaik

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    [München]: [AVANCIS GmbH], [2019?]

  7. Wächtler, Thomas [Other]; Gruska, Bernd [Other]; Schulz, Stefan E. [Other] ; Technische Universität Chemnitz-Zwickau Zentrum für Mikrotechnologien, Sentech Instruments GmbH Berlin, Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration Abteilung Multi Device Integration, International Conference on Solid State and Integrated Circuits Technology 8 2006 Schanghai

    Characterization of sputtered Ta and TaN films by spectroscopic ellipsometry : [8th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology, 2006 (ICSICT '06), Oct. 23-26, 2006, Shanghai, China]

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    [S.l.]: Techn. Univ. Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik, 2007