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  3. Bosse, Harald [Editor]; Flügge, Jens [Other] ; Physikalisch-Technische Bundesanstalt Abteilung Fertigungsmesstechnik, Seminar Requirements and Recent Developments in High Precision Length Metrology 2001 Braunschweig

    Requirements and recent developments in high precision length metrology : proceedings of the 159. PTB-Seminar (28th - 29th November 2001)

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    Bremerhaven: Wirtschaftsverl. NW, Verl. für neue Wissenschaft, 2001

    Published in: Physikalisch-Technische Bundesanstalt: Vorträge des ... PTB-Seminars ; 159 - PTB-Bericht ; 45

  5. Breuer, Kenneth S. [Editor]

    Microscale diagnostic techniques

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2005

  6. Wilkening, Günter [Editor]; Koenders, Ludger [Other] ; Seminar on Quantitative Microscopy 6 2004 Braunschweig, Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods 2 2004 Braunschweig

    Nanoscale calibration standards and methods : dimensional and related measurements in the micro- and nanometer range ; [peer-reviewed papers are presented with contributions to the NanoScale 2004 Seminar at the Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig, Germany, in March 2004]

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    Weinheim: Wiley-VCH, 2005

  9. Gröschl, Andreas [Author] ; Hausotte, Tino [Degree supervisor]; Hausotte, Tino [Other]; Manske, Eberhard [Other]; Franke, Jörg [Editor]; Hanenkamp, Nico [Editor]; Hausotte, Tino [Editor]; Merklein, Marion [Editor]; Schmidt, Michael [Editor]; Wartzack, Sandro [Editor]

    Hochfrequent fokusabstandsmodulierte Konfokalsensoren für die Nanokoordinatenmesstechnik

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    Erlangen: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2021

    Published in: FAU Studien aus dem Maschinenbau ; 370

  10. Stauffenberg, Jaqueline [Author] ; Manske, Eberhard [Degree supervisor]; Zöllner, Jens-Peter [Degree supervisor]; Gotszalk, Teodor Paweł [Degree supervisor] Technische Universität Ilmenau

    Kombination aus Nanofabrikation und Nanometrologie auf einer planaren Ø100 mm Nanofabrikationsmaschine (NFM-100)

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    Ilmenau: Universitätsbibliothek, [2024?]

  11. Gorecki, Christophe [Editor]; Asundi, Anand [Editor]; Osten, Wolfgang [Editor] ; Optical Micro- and Nanometrology Veranstaltung 2018 Straßburg, SPIE, SPIE

    Optical Micro- and Nanometrology VII : 25-26 April 2018, Strasbourg, France

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2018]

    Published in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 10678

  12. Gorecki, Christophe [Editor]; Asundi, Anand [Editor]; Osten, Wolfgang [Editor] ; Optical Micro- and Nanometrology Veranstaltung 2016 Brüssel, SPIE, SPIE

    Optical Micro- and Nanometrology VI : 5-7 April 2016, Brussels, Belgium

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2016]

    Published in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9890

  14. Xu, Haifeng [Author] ; Manske, Eberhard [Degree supervisor]; Hausotte, Tino [Other]; Dontsov, Denis [Other] Ilmenau Media Services

    Hochpräzise Bestimmung der Form- und Orthogonalitätsabweichungen einer Spiegelecke und Untersuchung des Verhaltens unter veränderlichen Umweltbedingungen

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    Ilmenau: TU Ilmenau; Ilmenau: Universitätsverlag Ilmenau, 2019

  15. Wu, Yiting [Author] ; Hausotte, Tino [Degree supervisor]; Hausotte, Tino [Other]; Manske, Eberhard [Other]; Franke, Jörg [Editor]; Hanenkamp, Nico [Editor]; Hausotte, Tino [Editor]; Merklein, Marion [Editor]; Schmidt, Michael [Editor]; Wartzack, Sandro [Editor] FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg Universitätsbibliothek

    Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop

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    Erlangen: FAU University Press, 2022

    Published in: FAU Studien aus dem Maschinenbau ; 390

  18. Xu, Haifeng [Author] ; Manske, Eberhard [Degree supervisor]; Hausotte, Tino [Other]; Dontsov, Denis [Other] Technische Universität Ilmenau

    Hochpräzise Bestimmung der Form- und Orthogonalitätsabweichungen einer Spiegelecke und Untersuchung des Verhaltens unter veränderlichen Umweltbedingungen

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    Ilmenau: Universitätsverlag Ilmenau, 2018 ; Ilmenau: Universitätsbibliothek, 2018