Media type: Book; Thesis Title: Die Alterung bei n-Kanal MOS-Transistoren unter dem Einfluß hochenergetischer Ladungsträger : Der "Hot-Electron"-Effekt Other titles: Nebent.: Der "Hot-Electron"-Effekt Contributor: Giebel, Thomas [Author] imprint: Düsseldorf: VDI-Verl., 1988 Published in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 9 ; 81 Extent: 115 S; graph. Darst Language: German ISBN: 3181481092 Keywords: n-Kanal-FET > Alterung > Heißes Elektron Origination: University thesis: Zugl.: Dortmund, Univ., Diss. Footnote: Literaturverz. S. 110 - 115
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