Media type: Book Title: Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections Contributor: Tan, Cher Ming [VerfasserIn]; Gan, Zhenghao [VerfasserIn]; Li, Wei [VerfasserIn]; Hou, Yuejin [VerfasserIn] imprint: London; Dordrecht; Heidelberg; New York: Springer, [2011] Published in: Springer Series in Reliability Engineering Extent: VII, 150 Seiten; Illustrationen Language: English ISBN: 9780857293091; 0857293095 RVK notation: ZN 4952 : Schaltungen der Grösstintegration (VLSI; ULSI) ZN 4040 : Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte ZN 4192 : Technologie diskreter Bauelemente (Bonden; Gehäuse); Packaging Keywords: ULSI > Reliabilität > Finite-Elemente-Methode Origination: Footnote:
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: ZN 4952 T161 Item ID: 33148445 Status: Loanable