Johny, Jacob
[Author];
Li, Yao
[Author];
Kamp, Marius
[Author];
Prymak, Oleg
[Author];
Liang, Shun-Xing
[Author];
Krekeler, Tobias
[Author];
Ritter, Martin
[Author];
Kienle, Lorenz
[Author];
Rehbock, Christoph
[Author];
Barcikowski, Stephan
[Author];
Reichenberger, Sven
[Author]
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Technische Universität Hamburg,
Technische Universität Hamburg Betriebseinheit Elektronenmikroskopie BEEM