Media type: Book; Thesis Title: Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität Contributor: Schulz, Michael H. [Author] imprint: Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1988 Published in: Informatik-Fachberichte ; 173 Extent: IX, 165 S; graph. Darst Language: German ISBN: 3540500510; 0387500510 RVK notation: ST 190 : Schaltungskreistechnik (techn.-physik.), Integrierte Schaltung, spez. Schaltkreise, VLSI, TTL, ECL etc. ZN 5680 : Fehleranalyse; Zuverlässigkeit SS 4680 : Informatik-Fachberichte (Springer-Verl.) Keywords: Schaltnetz > Prüfung Origination: University thesis: Zugl.: München, Techn. Univ., Diss. Footnote:
Departmental Library DrePunct – stack Shelf-mark: 0990 00279 001 Item ID: 32544987 Status: Loanable, place order > Ordering possible ‒ please log in